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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
QT-3102 熱阻測(cè)試儀

QT-3102-XX 測(cè)試器件類型：三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極管



支持雙DIE

1000W熱阻

過載欠壓保護(hù)



型號(hào) QT-3102
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) QT-3102-XX 測(cè)試器件類型：三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極管
R26：可以內(nèi)置到 QT-4100 的 DC 測(cè)試項(xiàng)內(nèi)實(shí)現(xiàn)大功率內(nèi)置熱阻測(cè)試
R26：通過 scanbox 可以實(shí)現(xiàn) Dual Die 測(cè)試
主要特點(diǎn) ? 最大電流、最高電壓視機(jī)型而定，最大電流分別有 20A，50A
? 最大電壓分別有 100V，200V





Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)