第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
KGD(Known Good Die)測試解決方案
支持高溫常溫測試：DC+SW+UIL+DC&RG； 支持測試針卡保護方案； 提供測試+分選整套方案；
|
針卡保護 |
兩顆并測 |
高溫常溫 |
數(shù)據(jù)合并 |
| 型號 | KGD測試解決方案 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 |
? 低雜散解決方案； ? 獨家針卡保護專利技術； ? 過載欠壓保護； ? 一次測試兩顆晶片； ? 支援高溫加熱 |
|
|
|
|
中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 |
|
0757 83207313 (銷售) |
|
0757 83208786 (銷售) |
|
info@powertechsemi.com |
佛山市聯(lián)動科技股份有限公司 版權所有 powertechsemi.com ? 2015 | 隱私政策 | Sitemap 粵ICP備17127080號-1
