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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
Prober

適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動(dòng)探針測(cè)試。 自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。 全自動(dòng)CCD視覺(jué)對(duì)針定位。 高精度定位平臺(tái)。 支持常高溫測(cè)試。 實(shí)時(shí)生成Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232接口。



懸浮電源

多Site并行

多通道高精度

支持多種擴(kuò)展

型號(hào) Prober
產(chǎn)品介紹 適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動(dòng)探針測(cè)試。 自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。
功能 ? 全自動(dòng)CCD視覺(jué)對(duì)針定位。
? 高精度定位平臺(tái)。
? 支持常高溫測(cè)試。
? 實(shí)時(shí)生成Mapping顯示Bin。
? 通用GPIB、TTL、R-232接口。